台式镀层测厚仪

  • COMPACT ECO X射线镀层测厚仪

COMPACT ECO X射线镀层测厚仪

  • COMPACT EcoX射线荧光光谱仪用于合金分析和鉴定

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COMPACT EcoX射线荧光光谱仪用于合金分析和鉴定

一、功能


1、采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。


2、镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。


3、镀层层数:多至5层。


4、测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.6毫米。


5、测量时间:通常30秒。


6、样品最大尺寸:380mm长×340mm宽×250mm高。


7、测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。


8、可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。


二、特点和数据


1、采用基本参数法校准,可在无薄膜标样情况下生成校准曲线以完成测量。


2、X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。例如(举例不同距离导致的误差数据)。


3、开放的校准模式,用户可自行建立校准曲线不受仪器厂家限制。


4、提供符合NIST美国国家标准技术协会要求,A2LA美国实验室协会认证的标准样品,可验证测量结果并让实验数据具有可追溯性。


5、Windows 7操作系统,数据可存储,转移,并可一键生成包含测量数据、统计值、样品图片和趋势图等要素的报告(word格式)。


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