台式镀层测厚仪

  • CUBE-X系列镀层测厚仪

CUBE-X系列镀层测厚仪

  • Cube系列技术特点


    一、功能

    1. 采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度,测量方法满足GB/T 16921-2005标准(等同ISO3497:2000、 ASTM B568和DIN50987)。

    1.镀层元素范围:钛~铀,包含常见的金、镍、铜、银、锡、锌、铬、钯等。

    2.镀层层数:多至5层。

    3.测量点尺寸:圆形测量点,直径约0.2-0.8毫米。

    4.测量时间:通常35秒-180秒。

    5.样品尺寸:330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)。

    6.测量误差:通常小于5%,视样品具体情况而定。

    7.可测厚度范围:通常0.01微米到30微米,视样品组成和镀层结构而定。

    8.同时定量测量8个元素。

    9.定性鉴定材料达20个元素。

    10.自动测量功能:编程测量,自定测量;修正测量功能:底材修正,已知样品修正 

    定性分析功能:光谱表示,光谱比较;定量分析功能:合金成份分析 

    数据统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图。 

    二、特点

    1.采用基本参数法校准,可在无标样情况下生成校准曲线以完成测量。

    2.X射线采用从上至下的照射方式,即使是表面高低不一的样品也可以正确测量。反之,如果是从下至上的照射方式,遇到表面凹凸的样品,无法调整Z轴距离,导致测量光程的变化,引起测量的误差。

    3.具有多种测试功能,仅需要一台仪器,即可解决多种测试

    4.相比其他分析设备,投入成本低

    5.仪器操作简单,便可获得很好的准确性和重现性

    6.综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 

    镀层分析:可分析四层以上厚度FP分析软件,做到无标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您大大节省购买标准片的成本.

    定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 

    光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 

    统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

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